TFT-LCD显示面板表面质量的检测方案

 

面板在制造过程中,大致可以分为三个阶段 Array(阵列)、Cell(成盒)、 Module(模组),其中Cell阶段是将阵列TFT (TFT array)基板与彩膜(CF)基板精确对合形成液晶盒(Cell)并切割。在这个过程中,需要人工进行外观缺陷检测和点亮电测,其中外观缺陷包括划伤、凹凸点、崩边、批锋、赃物等。

 

从目前来看,很多企业在LCD面板Cell阶段的表面瑕疵检测上面临的问题有ー下几点:第一,生产过程中的不良率比较高,一般可达到20%左右;第二,由于机器视觉检测的尚未普及,现在还是有很多厂家使用人工检测,人工检测具有较高的成本,同时需要对人员进行培训;第三,人工检测对于眼睛的伤害比较大,导致人员的流动性大,招工有一定的困难;第四,人工检验由于受到主观因素的影响,稳定性比较低,产生的一些不良率导致客户的情绪波动较大,不满意度高。 针对于上述痛点,我们深入客户现场进行了大量的调研和采样工作,自主设计开发了可用于TFT-LCD液晶面板表面微弱划伤检测的定制化光学方案,从而大大减小了AOI检测中的漏检率。

 

公司的研发团队深入研究了TFT-LCD半导体显示面板的表面质量缺陷,根据其形貌和本身特性开发了专用的光学方案。在获得高对比度和高精度图像的基础上,团队研发了配套的算法并建立了科学的数据模型。该方案能够实现TFT-LCD半导体显示面板行业检测表面质量缺陷的人工替代,引领该领域的质量检测,由低效转至高效,由低质转至高质,由主观转至科学。

创建时间:2021-08-16 12:56