TFT-LCD显示面板表面质量的检测方案

面板在制造过程中，大致可以分为三个阶段 Array（阵列）、Cell（成盒）、 Module（模组），其中Cell阶段是将阵列TFT （TFT array）基板与彩膜（CF）基板精确对合形成液晶盒（Cell)并切割。在这个过程中，需要人工进行外观缺陷检测和点亮电测，其中外观缺陷包括划伤、凹凸点、崩边、批锋、赃物等。

从目前来看，很多企业在LCD面板Cell阶段的表面瑕疵检测上面临的问题有ー下几点：第一，生产过程中的不良率比较高，一般可达到20%左右；第二，由于机器视觉检测的尚未普及，现在还是有很多厂家使用人工检测，人工检测具有较高的成本，同时需要对人员进行培训；第三，人工检测对于眼睛的伤害比较大，导致人员的流动性大，招工有一定的困难；第四，人工检验由于受到主观因素的影响，稳定性比较低，产生的一些不良率导致客户的情绪波动较大，不满意度高。 针对于上述痛点，我们深入客户现场进行了大量的调研和采样工作，自主设计开发了可用于TFT-LCD液晶面板表面微弱划伤检测的定制化光学方案，从而大大减小了AOI检测中的漏检率。

公司的研发团队深入研究了TFT-LCD半导体显示面板的表面质量缺陷，根据其形貌和本身特性开发了专用的光学方案。在获得高对比度和高精度图像的基础上，团队研发了配套的算法并建立了科学的数据模型。该方案能够实现TFT-LCD半导体显示面板行业检测表面质量缺陷的人工替代，引领该领域的质量检测，由低效转至高效，由低质转至高质，由主观转至科学。