喜讯丨壹倍科技MicroLED量检测设备荣获行家极光奖

近日，备受瞩目的行家说新型显示全产业链年会暨行家极光奖颁奖典礼在深圳举行，会议现场揭晓了2025行家极光奖各大奖项得主，深圳市壹倍科技有限公司凭借“Micro LED晶圆及面板高通量AOI量检测设备”荣获2025年度优秀产品奖。这也是壹倍科技继2024年“Micro LED晶圆级PL巨量检测设备”获奖后又一次登上该奖项榜单，充分体现了行业对其技术实力与产品创新的一致认可。

该奖项设备（Micro LED晶圆及面板高通量AOI量检测设备）专注于应对Micro LED量产中芯粒的位置偏移测量及外观缺陷检测难题，攻克了工艺节点繁杂、检测需求多样、精度要求极高、数据吞吐量大等诸多挑战。设备覆盖Micro LED从晶圆到面板的全场景，承担起良率监控与工艺支持的重要任务，涵盖晶圆(COW)、临时基板(COC) 、面板凸点(Panel with bumps)、焊后面板(Panel with chips)等关键工艺形态的精准检测与量测。

设备创新性地引入GME全局量测引擎，结合高精度补偿定位与跨视野像素定位等核心技术，能够在多对象、多工段、多工况场景下实现高精度、高通量检测。同时，依托先进的技术平台提升性能，通过模块的柔性设计适配多样化需求，为行业客户提供高性价比的良率管控方案。目前设备已实现批量出货，部署在多家客户的大规模、高负荷生产线上，解决众多量测、检测瓶颈问题，有力推动了多款在近期备受瞩目的Micro LED屏幕产品顺利上市。

随着Micro LED产业逐渐迈向规模化量产，提质降本成为产业链的共识与迫切需求。在此关键窗口期，壹倍科技将继续以主动良率管理理念为引领，通过GaN/GaAs外延高精度缺陷检测(U系列)、Micro LED晶圆巨量光致发光检测(P系列)、晶圆及面板高通量AOI量检测设备(A系列)的组合解决方案，打通从晶圆级到面板级的全制程量检测数据链，持续助力Micro LED全产业链实现质量突破与效能提升。